测量原理与应用特点

测量方式为射线穿透吸收式测量，测量直接物理量为面密度（克重）。当X射线穿透材料时，射线被材料反射、散射或吸收，导致射线强度有一些的衰减，且衰减量与被穿透材料的面密度呈正相关关系。

当材料的体积密度固定不变或一致性较高时，可以通过体积密度换算来测量材料的厚度（面密度=密度*厚度）。

X射线测厚仪属于低能辐射装置，且射线可通过电源实现开启关闭，一般不需要专门防护。

X射线测厚仪一般采用O型扫描架。

X射线测量传感器

X射线发射器采用双闭环电路控制系统，保证射线强度长期稳定和测量的高重复性。

X射线探测器引进德国前置放大电路技术，具有高信噪比。

X射线发射器采用专有狭缝式射线准直通道和小光斑设计，结合高信噪比探测器和软件算法，可提供更高的空间分辨精度和条纹缺陷识别。

X射线面密度仪/测厚仪技术特色和强大的功能模块

软件架构师和大数据专家量身打造的新一代在线测量软件系统，功能更强大，算法更科学。

可实现扫描测量、定点测量、循环定点测量，扫描和定点模式任意切换。

单次/多次轮廓线、分区线、趋势线等丰富的测量曲线实时呈现、多种品质数据显示。

基于数据库的海量全价值数据excel格式存储，历史数据查询和追溯，历史曲线复显。

专业级SPC统计分析，自动生成品质卷报，并可根据客户需求定制。

多种过程控制解决方案，过程实时监控，五线品质控制，多重预警和报警，超限打标。

支持实现闭环自动控制，可对接客户MES系统，可实现多机架同点对位跟踪测量。

自主研发数据采集卡与控制板卡，实时通信系统与CANOPEN总线通信传输，保证高速测量响应。

更强易用性和友好人机界面，一键智能操作。

应用领域

塑料薄膜、无纺布、金属箔材、橡胶等各种片材、 卷材或涂层的面密度（厚度）一致性在线测量与控制。